WDX(EPMA)
ガイドネットマップ法を用いたEPMA分析例
EPMAは特徴の一つに、ガイドネットマップ法があります。 SEM-EDXでは測定範囲が狭く、湾曲試料では面分析が正しく測定できないことがありますが、 EPMAのガイドネットマップ法を用いることで、広範囲の分析が可能になり...
EPMAによる微量元素の検出
エネルギー分解能や検出感度が良く、特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています。...
EPMAによる状態分析
酸化物やケイ酸塩の化学結合状態(イオン価、結晶構造、配位数)の異なりから、特性X線ピーク波長に変化(シフトや波形)が生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。
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MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析
MALDI-TOFMSはタンパク質などの生体試料の分析に多く用いられる手法ですが、合成化合物や合成高分子材料の分野においても活用されています。ここでは、合成化合物としてカラーフィルターなどに使用される顔料、合成高分子としてポリエチレングリコールの解析例を紹介します。...
不具合の原因を化学の視点で解決します。
クラック、変色、剥離、変形、物性強度低下など、製品、部材などに発生する不具合は様々です。その多くは、製品を構成する材料に原因がある場合が多く、その材料を分析調査することで解決することがあります。何が起きているのかを化学、および反応機構でアプローチする方法をご紹介します。...
EPMA分析における7つの分光結晶
EPMAには7つの分光結晶があり、目的とする元素の波長に合わせて分光器を選択することで、エネルギー分解能や検出感度が良く、微量成分の定量分析やマップ分析等で優れた結果を得ることが出来ます。...
SEM/EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度
一般的なプリント基板(PCB基板)のAuめっき表面を分析した際、下層のNiが露出していないにも関わらず検出される場合がある。これは電子線の散乱深さに関連性があり、正しい分析結果を得るには適切な加速条件を設定する必要がある。今回、モンテカルロシミュレーションを用いて加速電圧の違いによるEDX検出深さについて確認を行った。...
分析と化学反応機構で研究開発をアシストします!
研究開発において、分析や評価はチェックポイントとして欠かせないプロセスであり、その注目すべき対象には製品の構成材料が候補となることが多々あります。アイテスは、保有する多種多様な機器分析装置、観察装置、信頼性試験装置、そし...
波長分散型X線分光法(EPMA)による電子部品の元素分析
波長分散型X線分光法(EPMA)による電子部品の元素分析受託サービスです。
波長分散型X線分光器 WDS はエネルギー分散型X線分光法 EDSでは分離できない スペクトル上の近接元素を分離することができ、定量精度も向上します。...
装置







マイクロプローバー
裏面研磨
EMS/OBIRCH
sMIM
EBIC
EBAC
光学顕微鏡
デジタルマイクロスコープ
レーザー顕微鏡
ワンショット3D形状測定機
FE-SEM
卓上型SEM
FIB-SEM
TEM
EDX
WDX(EPMA)
EBSD
トリプルイオンポリッシャー(CP)
イオンミリング
研磨機
ウルトラミクロトーム
ワイヤーソー
3次元測定器
ラマン
AES
XPS
TOF-SIMS
AFM
硬度計
FT-IR
GC-MS
ICP-AES
TMA
DSC
TG-DTA
DMA
イオンクロマト
ヘーズメーター
NMR
色差計
MALDI-TOFMS
WPA
GPC
万能材料試験機
粒子径測定システム
細孔分布測定装置
パワーサイクル
熱衝撃(TC)
液槽熱衝撃(WTS)
ハイパワー恒温恒湿
恒温恒湿(THB)
恒温恒湿(TH)
低温(LT)
高温(HT)
HAST、PCT
In-Situ
ESD・ラッチアップ
CDM
光学測定
SAM、SAT
X線/CT
自記分光光度
MFR
全般