異物分析・成分分析 顕微ラマンとFTIR比較

異物などの成分分析、定性分析には分光分析が適しています。分光分析として、最もポピュラーな手法は、FTIRですが、別の手法としてラマン分光分析という手法があります。 本資料で、ラマン分光分析とFTIRとの比較についてご紹介...

材料と熱の関係 – 熱分析の紹介

材料に熱を掛けると様々な特性が変化します。このような特性の調査には熱分析が適しています。 観測したい特性の変化に応じて装置を使い分け、必要に応じ組み合わせて行います。 熱分析の種類と知る事のできる特性 熱分析の定義:測定...

ワンショット3D形状測定機

KEYENCE社製 VR-6200を導入しました!この1台で、様々な測定を行うことができます。 主なスペック ・倍率      :12~160倍・観察可能範囲  :W約300mm×D約125mm×H約70mm・耐荷重  ...

GC-MS分析装置ガイド

GC-MS分析は有機成分分析や有機構造解析によく用いられる手法であり、付帯装置により溶剤などの低分子からプラスチックなどの高分子まで幅広い分析対応が可能です。本資料ではアイテスで保有している試料導入装置と、それぞれの装置...

表面実装LED

表面実装型のLEDが過負荷で損傷する瞬間をX線透視観察で捉えた事例 表面実装LED 表面実装型のLEDを通電した状態で、電圧、電流を定格値から徐々に上昇させ、過負荷により不点灯となった過程を撮影した事例です。 X線 観察...

IC型コイル観察事例

IC型コイルの観察事例 X線による観察では、目的に応じた手法を用いる事で内部の構造を明確に捉える事ができます。 透過観察では金属異物などを素早く捉える事ができ、CT観察では立体的に任意の断面の像が得られる為、位置情報や形...

TOF-SIMSの事例 広域イメージマップ

電動ステージと組み合わせることで、広域のイメージマップ測定が可能です。 ステージ駆動による広域イメージマップ TOF-SIMSの通常測定(ビームスキャン測定は、サイズ500μm x 500μm以下を測定対象としています。...

ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験

ハイパワー恒温恒湿器を 2台導入しました!車載用部品等の温度サイクル試験・温湿度サイクル試験に最適です。...

高温ラッチアップ試験

受託試験 ラッチアップ試験のご紹介です。 CMOS ICおよびそれを含む半導体製品の信頼性として重要な、ラッチアップ破壊に対する耐性を評価します。...

形状測定レーザマイクロスコープ(VK-X200)

形状測定レーザマイクロスコープ(VK-X200)を用いた受託分析です。 408nmレーザーを用いて観察、計測を行います。測定結果は国家基準につながるトレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。...

X線透視・CT検査装置

YXLON製 マルチフォーカス Cheetah EVO を導入しました! 電子部品、樹脂ゴム、ゴム部品、金属部品など、さまざまな用途に活用できます。...

3次元寸法測定サービス

部品の3次元寸法測定受託サービスです。 近年、ISOの定着に伴い帳票の整備を必要とし、部品の測定データはこの品質の向上に貢献しております。 最新の測定技術を駆使する測定器と熟練した測定技術者から生まれた測定データは、多くのユーザから高い信頼を頂いております。 ...

X線光電子分光分析器による化学状態分析

受託分析 XPS(X線光電子分光法,X-ray Photoelectron Spectroscopy)のご紹介です。 極表面層 数nm領域の元素分析と化学状態の分析を行います。また、イオンエッチングとの併用で深さ方向の分析も可能です。 事例:Al表面酸化状態分析、銀メッキ表面の変色分析...

高温試験 / 高温動作試験

受託試験 高温試験/高温動作試験のご紹介です。 試料を高温条件下に晒し、耐熱性を評価するために実施されます。接合部界面部のボイド発生等の劣化評価にも有効です。 他の試験の前処理(乾燥・脱湿処理)として実施される事も多くあります。...

高度加速寿命試験

受託試験 HAST(High Accelerated Stress Test):高度加速寿命試験のご紹介です。 密封容器にて100℃以上の温度で湿度を掛けて、試料の耐湿評価やパッケージの気密性の評価などの目的で実施されます。...

電気特性評価の適用例

受託試験 電気特性評価のご紹介です。 高温/低温の温度状態でのI-V特性変動評価を行い、不良要因の推定及び次過程の評価・分析解析の選択より不具合メカニズムの解明へ進めます。...

ラッチアップ試験受託サービス

受託試験 ラッチアップ試験のご紹介です。 CMOS ICおよびそれを含む半導体製品の信頼性として重要な、ラッチアップ破壊に対する耐性を評価します。...

超低温恒温恒湿試験器 《 -70℃ 》

受託試験 超低温恒温恒湿試験のご紹介です。 「-70℃」の低温での試験が可能です。また、一定の温度・湿度の条件での試験実施及び恒温恒湿試験器は温湿度を制御する事が出来る為、プログラム運転での温湿度サイクル試験も対応ができます。...

波長分散型X線分光法(EPMA)による電子部品の元素分析

波長分散型X線分光法(EPMA)による電子部品の元素分析受託サービスです。 波長分散型X線分光器 WDS はエネルギー分散型X線分光法 EDSでは分離できない スペクトル上の近接元素を分離することができ、定量精度も向上します。...

恒温恒湿試験/恒温恒湿バイアス試験

受託試験 恒温恒湿試験のご紹介です。 試料が、恒温/恒湿条件下に晒された場合の耐湿性の評価等に有効です。 恒温恒湿バイアス試験は、イオンマイグレーション評価等のために実施されます。...

液槽冷熱衝撃試験 高温180℃対応

受託試験 液槽冷熱衝撃試験のご紹介です。 液体を媒体として温度ストレスを与えます。高温180℃対応で、車載用部品、高温対応の電子部品等の試験・評価に有効です。弱い箇所を探す場合或いは試験期間の短縮にも有効な試験方法です。...

冷熱衝撃試験

受託試験 冷熱衝撃試験のご紹介です。 試料を高温と低温に繰り返し晒し、ストレス評価を実施します。 主に、電子部品の接合部を評価します。...