電気特性評価の適用例

I-V特性測定結果 測定結果より不良モードの判別を行うことが出来ます 温度特性評価 高温/低温の温度状態でのI-V特性変動評価 不良要因の推定及び次過程の評価・分析解析の選択より不具合メカニズムの解明へ進めます I-V特...

ラッチアップ試験受託サービス

受託試験 ラッチアップ試験のご紹介です。 CMOS ICおよびそれを含む半導体製品の信頼性として重要な、ラッチアップ破壊に対する耐性を評価します。...

ESD(HBM・MM)試験受託サービス

受託試験 ESD(HBM・MM)試験のご紹介です。 半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD(静電気破壊)に対する耐性を評価します。...