TOF-SIMS

汚染や異物の分析には SEM-EDX が利用されていますが、windowless EDX を除く一般的な EDX では Li の検出は困難です。一方、TOF-SIMS は Li を感度よく検出することができます。TOF-SIMS と SEM-EDX で Li の分析を比較した事例を示します。...

クラック、変色、剥離、変形、物性強度低下など、製品、部材などに発生する不具合は様々です。その多くは、製品を構成する材料に原因がある場合が多く、その材料を分析調査することで解決することがあります。何が起きているのかを化学、および反応機構でアプローチする方法をご紹介します。...

様々な表面分析手法を用いて、異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役立て致します。...

アイテスでは様々な化学分析サービスを承っております。化学分析の手法や進め方をご紹介します。...

TOF-SIMS (Time Of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy)は 軽元素、無機物から 分子量の大きい有機物まで、最表面の微量成分の分析が可能です。 ...

TOF-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が可能であり、 有機物の分析にも有効です。 有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。...

受託分析　TOF-SIMSのご紹介です。 TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です。 SEM-EDXでは検出できなかった微量汚染もTOF-SIMSなら検出できるかもしれません。...

受託分析　TOF-SIMSのご紹介です。 シリコンウェハ、ガラス基板、プリント配線基板など洗浄工程を必要とする、さまざまな基板上の界面活性剤等の残渣あるいは目に見えない微量汚染物質の解析が可能です。...