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Author Archives:
analyze_staff
「ラミネートフィルムのフィッシュアイ分析事例」を掲載しました
Posted on
2021年12月29日
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analyze_staff
「ラミネートフィルム異物分析事例」を掲載しました
Posted on
2021年12月29日
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analyze_staff
「SEMによる破断面観察(カニカン)」を掲載しました
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2021年12月29日
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analyze_staff
「超微小硬度計による負荷除荷モード&カラーフィルター測定例」を掲載しました
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2020年12月25日
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analyze_staff
「高温ラッチアップ試験」を掲載しました
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2020年12月24日
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「反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析」を掲載しました
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2020年12月24日
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analyze_staff
「パワー半導体の解析サービス」を掲載しました
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2020年11月30日
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analyze_staff
「顕微ラマンによる金属腐食の分析」を掲載しました
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2020年11月10日
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analyze_staff
「パワーデバイスのHAST試験」を掲載しました
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2020年10月30日
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analyze_staff
微小硬度計による材料の評価 を掲載しました
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2020年9月14日
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analyze_staff
ウィスカ評価 を掲載しました
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2020年9月14日
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analyze_staff
EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞り込み を掲載しました
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2020年9月14日
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analyze_staff
短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析 を更新しました
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2020年9月14日
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analyze_staff
TOF-SIMS分析 を掲載しました
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2020年9月14日
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化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム① を掲載しました
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2020年9月8日
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analyze_staff
化学反応機構研究所 材料変色原因解明事例 を掲載しました
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2020年9月8日
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analyze_staff
「SiCデバイスの裏面発光解析」を更新しました
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2020年8月31日
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「FIB断面でのLV-SEMとEBIC法による拡散層の観察」を更新しました
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2020年8月28日
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analyze_staff
「FIB-SEMによる半導体の拡散層観察」を掲載しました
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2020年8月28日
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ICの不良解析 を掲載しました
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2020年8月4日
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信頼性試験に伴う経時変化観察 を掲載しました
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2020年7月6日
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analyze_staff
XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 を掲載しました
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2020年7月6日
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analyze_staff
顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析 を掲載しました
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2020年6月26日
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analyze_staff
ワイヤーソーによる切断加工 を掲載しました
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2020年6月22日
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analyze_staff
断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋) を掲載しました
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2020年6月22日
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analyze_staff
化学反応機構研究所 を 開設しました!
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2020年6月9日
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analyze_staff
顕微ラマンによる多層材料分析 を掲載しました
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2020年6月2日
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液晶成分のGCMS分析 を掲載しました
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2020年5月29日
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AFM(原子間力顕微鏡) を掲載しました
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2020年5月26日
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有機物のTOF-SIMS分析 を掲載しました
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2020年5月26日
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analyze_staff
微量汚染物のTOF-SIMS分析 を掲載しました
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2020年5月26日
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熱分析(DMA・DSC・TMA・TG-DTA)を掲載しました
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2020年5月25日
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技術サービス資料「液晶材料とその分析技術」を掲載しました
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2020年4月17日
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X線透過・CT検査装置 事例を追加しました
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2020年3月31日
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技術サービス資料「半導体パッケージにおけるCuワイヤボンディングの接合界面について」を掲載しました
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2020年1月31日
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analyze_staff
技術論文「半導体パッケージにおけるCuワイヤボンディングの接合界面について」を掲載しました
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2019年12月26日
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analyze_staff
X線透過・CT検査装置 事例(動画)を追加しました
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2019年10月23日
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analyze_staff
装置一覧を更新しました
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2019年10月22日
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analyze_staff
X線透過・CT検査装置 観察事例を追加しました
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2019年9月2日
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YXLON製 マルチフォーカス Cheetah EVOを導入しました
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2019年8月23日
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島津製作所社製 GC-MS 最新装置を導入しました
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2019年7月1日
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analyze_staff
資料「sMIMによる拡散層観察」を更新しました
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2019年6月14日
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技術論文「太陽電池の不具合と解析事例」を掲載しました。
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2019年2月8日
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analyze_staff
資料「信頼性のトータルサポートサービス」を掲載しました
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2018年11月22日
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analyze_staff
資料「断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス」を掲載しました
Posted on
2018年10月26日
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analyze_staff
資料「液晶パネルの不良解析」を掲載しました
Posted on
2018年10月11日
by
analyze_staff
資料「表面分析のご紹介」を掲載しました
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2018年10月5日
by
analyze_staff
資料「アイテス技術の底力[高分子材料分析編]」を掲載しました
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2018年9月3日
by
analyze_staff
事例「sMIMによる半導体拡散層の解析」を掲載しました
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2018年8月24日
by
analyze_staff
対象別メニュー「パワーデバイスのトータル・ソリューションサービス」を更新しました。
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2018年8月22日
by
analyze_staff
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アイテス各サービスについてのお問い合わせ
分析解析・信頼性評価
(品質技術 営業)
TEL:077-599-5020
TEL:077-599-5020
パネル検査装置
(製品開発 営業)
TEL:077-599-5040
TEL:077-599-5040
電子機器修理
(テクニカルサポートセンター)
TEL:077-599-5031
TEL:077-599-5031
ウェハー加工サービス
TEL:077-599-5017
TEL:077-599-5017
採用について(総務)
TEL:077-599-5015
TEL:077-599-5015
全体のお問い合わせ
TEL:077-599-5015
TEL:077-599-5015