ホーム
品質技術サービス TOP
太陽光パネル検査・点検・評価
電子機器修理
ウェハー加工
企業情報
採用情報
品質技術サービス TOP
故障解析・構造解析
電気特性測定
試料加工
OBIRCH/発光解析
FIBSEM/TEM
拡散層観察
その他
断面研磨・加工観察・分析
断面研磨・断面加工・平面加工
表面観察・断面観察
元素分析
計測技術
表面・材料・異物・汚染分析
微小異物分析
成分・材料分析
表面分析
熱分析
信頼性試験・評価
信頼性試験/環境試験
製品評価・測定
非破壊観察
化学反応機構研究所
装置別メニュー
分析対象
装置一覧
技術資料
最新情報
分析技術者ブログ
太陽光パネル検査・点検・評価
ソラメンテ
EL・PL 検査装置
EL/PL 検査装置 保守サービス
PV遠隔安全診断システム SoT (そっと、)
技術資料
お問い合わせ
販売終了品
修理で延命できる可能性
修理のお申し込みについて
修理実績(パネコン)
修理実績(FAコンピュータ)
修理実績(その他)
よくあるご質問
メルマガバックナンバー
お問い合わせ
半導体プロセス受託加工サービス
MEMS ファウンドリーサービス
テスト用膜付きウェハー
ウェハー加工実績
ウェハー販売(Si/SOI/SiC/GaAs)
金属汚染分析サービス
恋する半導体(セミコイ)
≡
HOME
企業情報
アクセス
採用情報
お問い合わせ
ENGLISH
品質技術サービス TOP
故障解析・構造解析
電気特性測定
試料加工
OBIRCH/発光解析
FIBSEM/TEM
拡散層観察
その他
断面研磨・加工観察・分析
断面研磨・断面加工・平面加工
表面観察・断面観察
元素分析
計測技術
表面・材料・異物・汚染分析
微小異物分析
成分・材料分析
表面分析
熱分析
信頼性試験・評価
信頼性試験/環境試験
製品評価・測定
非破壊観察
化学反応機構研究所
装置別メニュー
分析対象
装置一覧
技術資料
最新情報
分析技術者ブログ
太陽光パネル検査・点検・評価
ソラメンテ
EL・PL 検査装置
EL/PL 検査装置 保守サービス
PV遠隔安全診断システム SoT (そっと、)
技術資料
お問い合わせ
販売終了品
修理で延命できる可能性
修理のお申し込みについて
修理実績(パネコン)
修理実績(FAコンピュータ)
修理実績(その他)
よくあるご質問
メルマガバックナンバー
お問い合わせ
半導体プロセス受託加工サービス
MEMS ファウンドリーサービス
テスト用膜付きウェハー
ウェハー加工実績
ウェハー販売(Si/SOI/SiC/GaAs)
金属汚染分析サービス
恋する半導体(セミコイ)
Author Archives:
fujiko3_staff
「TOF-SIMSの事例 広域イメージマップ」を掲載しました
Posted on
2022年6月23日
by
fujiko3_staff
「機械研磨による3D構築」を掲載しました
Posted on
2022年6月15日
by
fujiko3_staff
「エネルギー分散X線分光法(EDS)」を掲載しました
Posted on
2022年5月19日
by
fujiko3_staff
「EDSによる分析事例(Cuパッドの接合界面)」を掲載しました
Posted on
2022年5月19日
by
fujiko3_staff
「カーボン材料のラマン分析」を掲載しました
Posted on
2022年5月18日
by
fujiko3_staff
「熱脱着GC-MSによるポリマー中の添加剤不具合解析」を掲載しました
Posted on
2022年5月9日
by
fujiko3_staff
「光学顕微鏡とSEMの使い分け」を掲載しました
Posted on
2022年4月19日
by
fujiko3_staff
「化学反応機構研究所 反応熱分解によるポリカーボネート劣化解析」を掲載しました
Posted on
2022年4月14日
by
fujiko3_staff
「EBSDの事例 2つの黄銅材を比較」を掲載しました
Posted on
2022年4月13日
by
fujiko3_staff
「低分子シロキサン定量分析」を掲載しました
Posted on
2022年4月7日
by
fujiko3_staff
「フタル酸エステル類のスクリーニング分析」を掲載しました
Posted on
2022年4月7日
by
fujiko3_staff
「HDPE・LDPE比較分析」を掲載しました
Posted on
2022年4月7日
by
fujiko3_staff
「冷熱衝撃試験」を更新しました
Posted on
2022年4月1日
by
fujiko3_staff
「液槽冷熱衝撃試験 高温180℃対応」を更新しました
Posted on
2022年4月1日
by
fujiko3_staff
「超音波顕微鏡 Scanning Acoustic Microscope (SAM)」を更新しました
Posted on
2022年3月29日
by
fujiko3_staff
「重合度、分子量の差をIR分析で検証」を掲載しました
Posted on
2022年3月24日
by
fujiko3_staff
「CDM試験 低湿度環境対応」を掲載しました
Posted on
2022年3月1日
by
fujiko3_staff
「液晶材料分析」を掲載しました
Posted on
2022年2月8日
by
fujiko3_staff
「ESD(HBM・MM)試験受託サービス」を掲載しました
Posted on
2022年2月2日
by
fujiko3_staff
「ESD(CDM)試験受託サービス」を掲載しました
Posted on
2022年2月2日
by
fujiko3_staff
「液槽冷熱衝撃試験 LED通電」を掲載しました
Posted on
2022年1月31日
by
fujiko3_staff
「信頼性試験後のPbフリーはんだ断面観察」を掲載しました
Posted on
2022年1月27日
by
fujiko3_staff
「ミクロトームは刃(ナイフ)が命」を掲載しました
Posted on
2022年1月20日
by
fujiko3_staff
「ガイドネットマップ法を用いたEPMA分析例」を掲載しました
Posted on
2022年1月18日
by
fujiko3_staff
「質量分析ガイド」を掲載しました
Posted on
2021年12月13日
by
fujiko3_staff
アイテス各サービスについてのお問い合わせ
分析解析・信頼性評価
(品質技術 営業)
TEL:077-599-5020
TEL:077-599-5020
パネル検査装置
(製品開発 営業)
TEL:077-599-5040
TEL:077-599-5040
電子機器修理
(テクニカルサポートセンター)
TEL:077-599-5031
TEL:077-599-5031
ウェハー加工サービス
TEL:077-599-5017
TEL:077-599-5017
採用について(総務)
TEL:077-599-5015
TEL:077-599-5015
全体のお問い合わせ
TEL:077-599-5015
TEL:077-599-5015