2020年11月に開催されます、第40回ナノテスティングシンポジウムにて、コマーシャルセッションおよび商業展示プログラムに参加いたします。 設計、プロセス、テストおよび設計・製造・テスト装置分野の研究…
「フタル酸エステル類の1H NMR分析」を掲載しました
「超微小硬度計による負荷除荷モード＆カラーフィルター測定例」を掲載しました
「高温ラッチアップ試験」を掲載しました
「反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析」を掲載しました
「パワー半導体の解析サービス」を掲載しました
「顕微ラマンによる金属腐食の分析」を掲載しました
『第40回ナノテスティングシンポジウム』にて講演予定
「パワーデバイスのHAST試験」を掲載しました
微小硬度計による材料の評価 を掲載しました
ウィスカ評価 を掲載しました
EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞り込み を掲載しました
短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析 を更新しました
TOF-SIMS分析 を掲載しました
化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム① を掲載しました
化学反応機構研究所 材料変色原因解明事例 を掲載しました
「SiCデバイスの裏面発光解析」を更新しました
「FIB断面でのLV-SEMとEBIC法による拡散層の観察」を更新しました
「FIB-SEMによる半導体の拡散層観察」を掲載しました
ICの不良解析 を掲載しました
信頼性試験に伴う経時変化観察 を掲載しました
XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 を掲載しました
顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析 を掲載しました
ワイヤーソーによる切断加工 を掲載しました
断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋) を掲載しました
化学反応機構研究所 を 開設しました！
顕微ラマンによる多層材料分析 を掲載しました
液晶成分のGCMS分析 を掲載しました
AFM（原子間力顕微鏡） を掲載しました
有機物のTOF-SIMS分析 を掲載しました
微量汚染物のTOF-SIMS分析 を掲載しました
熱分析（DMA・DSC・TMA・TG-DTA）を掲載しました
技術サービス資料「液晶材料とその分析技術」を掲載しました
X線透過・CT検査装置 事例を追加しました
技術サービス資料「半導体パッケージにおけるCuﾜｲﾔﾎﾞﾝﾃﾞｨﾝｸﾞの接合界面について」を掲載しました
技術論文「半導体パッケージにおけるCuﾜｲﾔﾎﾞﾝﾃﾞｨﾝｸﾞの接合界面について」を掲載しました
先進パワー半導体分科会 第6回講演会 に発表・参加してきました！
先進パワー半導体分科会 第6回講演会 にて発表・参加してきました。 2019年12月3日(火)〜4日(水) 於：広島国際会議場 パワー半導体の結晶成長、基礎物性評価、プロセス技術、デバイス、機器応用…
第36回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム に出展しました！
第36回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム に出展してきました。 2019年11月19日(火)～21日(木) 於：アクトシティ浜松 本シンポジウムはセンサ・マイクロマシン技術のさら…
第39回ナノテスティングシンポジウム に今年も参加してきました！
第39回ナノテスティングシンポジウム に今年も参加してきました。 2019年11月18日(月)〜19日(火) 於：国際ファッションセンター ナノテスティングシンポジウム（旧名称 LSIテスティングシ…
X線透過・CT検査装置 事例(動画)を追加しました
装置一覧を更新しました
世界最大のSiC関連国際学会、通称 ICSCRM チュートリアルセッション に出展します
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 ”Tutorial Day” (通称 ICS…
X線透過・CT検査装置 観察事例を追加しました
YXLON製 マルチフォーカス Cheetah EVOを導入しました
島津製作所社製 GC-MS 最新装置を導入しました
資料「sMIMによる拡散層観察」を更新しました
先進パワー半導体分科会 第14回研究会 併催展示会に出展しました
先進パワー半導体分科会 第14回研究会 の併催展示会(2019年5月20日－21日、於：横浜情報文化センター)に出展いたしました。 今回は若手～中堅者対象のセミナーや最先端研究開発の動向が紹介され…